Sphères intégrantes UV - Instrument Systems

Sphères intégrantes UV

sphere integrante UV

sphere integrante UV

Instrument Systems offre des solutions de mesure complètes pour le rayonnement UV-A, -B et -C à partir de 200 nm. Le savoir faire d’Instrument Systems pour ses spectroradiomètres In’est plus a démontrer, par ex. la série CAS, avec des sphères d’intégration en PTFE, facilite les mesures de haute sensibilité du flux rayonnant UV. Un préconditionnement exclusif des sphères d’intégration en PTFE garantit une faible fluorescence, une grande stabilité et des mesures de haute précision dans la gamme spectrale UV pour les environnements de laboratoire et de production.

Tous les solutions de mesure UV d’Instruments Systems sont livrées avec un étalonnage certifié PTB.

Caractéristiques:

–  Solutions de mesure complète pour l’UV
–  Mesures de haute sensibilité pour rayonnement UV jusqu’à 200 nm
–  Suppression efficace de la fluorescence
–  Correction de lumière parasite
–  Large choix d’équipements et d’accessoires optiques

Modèles disponibles:

ISP 50-UV

Sphères intégrantes UV 50mm

Sphères intégrantes UV 50mm

  • Diamètre interne 50 mm
  • Gamme spectrale 200 – 2500 nm
  • Application: production, e.g. wafer probing, chip testing
  • Measurement port options: window

ISP 100-UV

Sphère intégrante UV 100mm

Sphère intégrante UV 100mm

  • Diamètre interne 100 mm
  • Gamme spectrale 200 – 2500 nm
  • Applications: production, e.g. wafer probing, chip testing
  • Option sur le port de mesure: fenêtre, dôme

ISP 150-UV

sphère intégrante UV 150mm

sphère intégrante UV 150mm

  • Diamètre interne 150 mm
  • Gamme spectrale 200 – 2500 nm
  • Applications: laboratoire et production, e.g. single-chip / multi-chip testing
  • Option sur le port de mesure: fenêtre, dôme
  • Connecteur SMA pour source auxiliaire: oui

ISP 250-UV

sphère intégrante UV 250mm

sphère intégrante UV 250mm

  • Diamètre interne 250 mm
  • Gamme spectrale 200 – 2500 nm
  • Applications: laboratoire et production, e.g. single-chip / multi-chip testing
  • Option sur le port de mesure: fenêtre, dôme
  • Connecteur SMA pour source auxiliaire: oui

 

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